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正確選擇 X 射線光學元件可以顯著提高 XRD 數據質量，使定量和定性物相分析更容易，并避免忽視衍射圖中的重要細節。

X 射線衍射 (XRD) 是對多晶樣品（如粉末或塊體材料）進行定量和定性分析的標準方法。很難識別材料中包含的所有物相，并量化每個物相的正確相對含量。這在多相體系中尤其如此，其中某些物相只占整個體系的百分之幾。高數據質量、高分辨率和低背景噪音在這方面有很大幫助。Anton Paar 全自動多功能粉末 X 射線衍射儀 XRDynamic 500 是此類測量的完美選擇，因為其專利的TruBeam^TM 概念將無與倫比的數據質量和測量效率相結合。