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顯微分光膜厚儀“OPTM”OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試，并有獨家專利可針對透明基板去除背面反射，從而達到“真實反射率、膜厚”測試的目的。此外，軟件操作簡單、使用方便且簡化了復雜的...全文>>

Zeta電位?粒徑?分子量測量系統ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（ZetaPotential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。全新的zeta電位...全文>>

大塚電子利用光技術，開發出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術支持。以測量技術、應用示例等重點介紹為主，定期舉辦Webinar(網絡研討會)。 本研討會免費參加 通過以下Forms鏈接，提交參會...全文>>

助力雙碳目標達成，第十五屆國際電池展CIBF2023于2023年5月16日至5月18日在深圳國際會展中心舉辦。本次盛會參與人數眾多，大塚電子攜最新款納米粒度儀產品ELSZneo首次亮相，與行業內新老朋友廣泛交流，收獲頗豐。期待下次再相遇。Zeta電位·粒徑·分子量測量系統多檢體納米粒徑測量系統顯微分...全文>>

RETS-100nx相位差測量儀是OLED圓偏光片、疊層補償膜、IPS液晶用帶補償偏光片等各種薄膜的光學延遲量測量系統。實現非破壞、疊層無需分離的原位測量。RETS-100nx可以高速、高精度測量60,000nm的極高相位差(延遲量)。簡潔、人性化的測量軟件，極大地縮短測量與處理時間。此外，軸角度補...全文>>

1.開頭近年來，在平板顯示器、包裝用薄膜、光學薄膜等領域出現了各種各樣的產品，特別是在這些產品中，光學特性成為最重要的特性之一。我們提供用于產品質量控制的分光測量系統，本文介紹這些系統。2.什么是分光(1) 光特性光具有粒子和波的特性。當光以波表示時，波的波峰到波峰或波谷到波谷的距離稱為波長（圖1）...全文>>

MCPD series 薄膜在線測量設備是光學式測量系統，可以以非接觸和非破壞性的方式測量薄膜厚度、透過率、顏色等。可測量的膜厚范圍為 65 nm 到 92 μm。（以折射率n=1.5換算）采用分光干涉法測量原理，支持多層膜厚測量，同時實現高重復性精度。采用獨創的算法，可以高速實時監控，非常適合于薄...全文>>

ELSZ-PT是與ELSZ-2000 series、ELSZneo配合使用的pH滴定儀，可自動測量pH或添加劑濃度對粒徑 · Zeta電位的影響，并可以與平板樣品池連接使用。等電點評價為自動測量，可縮短作業時間。pH范圍　pH1～13測量模式　滴定模式?添加劑模式?循環模式循環流速　約10～40mL...全文>>

1.開頭近年來，在平板顯示器、包裝用薄膜、光學薄膜等領域出現了各種各樣的產品，特別是在這些產品中，光學特性成為最重要的特性之一。我們提供用于產品質量控制的分光測量系統，本文介紹這些系統。2.什么是分光(1) 光特性光具有粒子和波的特性。當光以波表示時，波的波峰到波峰或波谷到波谷的距離稱為波長（圖1）...全文>>