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◆規(guī)格
▼UTS-2000
機(jī)種 | UTS-2000 | |
測(cè)量方式 | FT/IR 干渉膜厚測(cè)量法 | |
測(cè)量配置 | 反射、透過(guò)（選配） | |
樣品尺寸 | 20 × 20 ～ 1200 × 1200μm | |
顯示器 | 內(nèi)置CMOS相機(jī)確認(rèn)測(cè)量位置 | |
●測(cè)量范圍／精度 | ||
測(cè)量膜厚范圍 | 0.25μm～750μm（Siの場(chǎng)合） | |
測(cè)量膜厚再現(xiàn)性 | 0.005μm以下 (同一點(diǎn)繰返し測(cè)定時(shí)、Si の場(chǎng)合) | |
●XY樣品臺(tái) | ||
距離 | 200mm×200mm | |
驅(qū)動(dòng)分辨率 | 2μm | |
●數(shù)據(jù)處理部 | ||
對(duì)應(yīng)OS | Windows 7 Professional | |
控制裝置 | JASCO光學(xué)管理器控制光學(xué)系統(tǒng)／控制XY樣品臺(tái)／控制搬送機(jī)（選配） | |
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
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