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儀器簡介：

來自奧林巴斯的3D測量激光顯微鏡LEXT OLS4500是結合了傳統光學顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及探針掃描顯微鏡（SPM）功能一體機，可以滿足不同樣品的觀測需求。LEXT OLS4500可以輕松實現毫米到納米的觀察和測量，放大倍率由幾十倍到高達百萬倍。找到觀測目標后，可以在光學顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換而不用擔心目標消失。可以使用探針顯微鏡快速而正確的完成觀察。

特征及優勢：

• 結合光學顯微鏡、激光顯微鏡、探針顯微鏡為一體，擁有各自的特長，三種模式可自由轉換，無需重新放置樣品。
• 探針顯微鏡擁有多種觀察模式（基本模式：接觸模式、動態模式、相位模式；選項模式：電流模式、表面電位模式、磁力模式）可以觀察、測量樣品表面的形狀，還可以進行物性分析。
• 涵蓋了低倍觀察到高倍觀察的4種物鏡，并在電動物鏡轉換器上裝配了SPM單元，可以無縫切換倍率和觀察方法，而且能進行納米級觀測。
• 采用裝在電動物鏡轉換器上的物鏡型SPM側頭。同軸、共焦配置了物鏡和微懸臂前端，所以切換SPM觀察時不會丟失觀察目標點。
• 被精確調整過的電動物鏡轉換器、SPM側頭、微懸臂支架，只需把已調好的微懸臂位置的支架插入SPM側頭中，即可完成微懸臂的更換，提高了觀察和測量的效率。
• 具有向導功能，操作簡單，可迅速獲得測量結果。

應用實例：

1、高分子薄膜 2.鋁合金陽極氧化膜 3、DVD表面

4、維式硬度計壓痕 5、TiO2單結晶電路板 6、IC元件圓孔

彩色印刷 a1、光學顯微鏡 a2、SPM a3、SPM形態分析

乳酸菌 b1、LSM b2、SPM b3、SPM截面形狀分析

墨粉粒子 c1、LSM c2、SPM c3、SPM截面形狀分析