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Scanning Thermal probe system熱掃描探針系統，可以和任何主流的的AFM進行聯用。可以同時獲得形貌 & 納米尺度的熱導率以及溫度分布，非常適合應用在納米線/碳纖維/聚合物復合材料等領域
模塊性能：
可以同時實現樣品表面形貌掃描和材料相關熱學性能測試
1） 溫度；
2） 溫度梯度變化曲線；
3） 定性熱導率；
4） 相變溫度；
5） 定性熱容量；
模塊優勢：
1）高性價比，能實現熱學掃描及熱學性質測試的功能，價格僅為其為同類產品的一半；
2）精細測量，能達到20nm區域測溫；
3）耐高溫，針尖在700℃高溫下也不易變形；
模塊掃描機制：
目前國內的國家納米科學中心，中山大學，美國希捷硬盤公司在華的工廠均采購了這個模塊。
以下是一些典型的SThM熱導率測試以及溫度分布的測試案例：
1）左半部分納米線的形貌圖以及溫度分布的對應，右半部分為碳膜/Bi2Te3（熱電材料）的形貌圖以及熱導率圖對應。
2）碳纖維與環氧樹脂復合材料形貌與熱導率對應
3）聚合物纖維PCL-Coll_形貌與溫度分布對應
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