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賽默飛（原FEI）發射掃描/透射電子顯微鏡圖片
本圖片來自北京歐波同光學技術有限公司提供的賽默飛（原FEI）發射掃描/透射電子顯微鏡，型號為 F200i S/TEM的賽默飛掃描電鏡，產地為捷克，屬于品牌，參考價格為面議，公司還可為用戶供應高品質的賽默飛（原FEI）Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV場發射掃描/透射電子顯微鏡、賽默飛（原FEI）透射電鏡 Talos F200X S/TEM等產品。北京歐波同光學技術有限公司是中國粉體網的會員，合作關系長達7年，工商信息已通過人工核驗，獲得粉享通誠信認證，請放心選擇！
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北京歐波同光學技術有限公司
會員7年
營業執照已認證
品牌性質：代理商
廠商榮譽：
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核心參數
探測器：
雙100 mm2 Racetrack 檢測器“( Dual-X”)加速電壓：
20到200 kV電子槍：
場發射槍或高亮度場發射槍電子光學放大：
見參數光學放大：
見參數分辨率：
≤ 0.10 nm
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