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低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200
低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200

參考價格

面議

型號

RE-200

品牌

大塚電子

產(chǎn)地

江蘇

樣本

暫無
大塚電子(蘇州)有限公司

會員

|

第6年

|

生產(chǎn)商

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產(chǎn)品信息

特 點

? 可測從0nm開始的低(殘留)相位差
? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
(相當(dāng)于世界*快速的0.1秒以下來處理)
? 無驅(qū)動部,重復(fù)再現(xiàn)性高
? 設(shè)置的測量項目少,測量簡單
? 測量波長除了550nm以外,還有各種波長
? Rth測量、全方位角測量
(需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
? 通過與拉伸試驗機(jī)組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
 (本系統(tǒng)屬特注。)

測量項目

? 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
? 主軸方位角(θ[deg.])
? 橢圓率(ε)?方位角(γ)
? 三次元折射率(NxNyNz)

用 途

? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料(玻璃有變形,歪曲等)

原 理

? 什么是RE-200
? RE-200是光子結(jié)晶素子(偏光素子)、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式,沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu),系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造,長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

仕 樣

型號

RE series

樣品尺寸

*小10×10mm ~**100×100mm

測量波長

550nm (標(biāo)準(zhǔn)仕樣)※1

相位差測量范圍

約0nm ~約1μm

軸檢出重復(fù)精度

0.05°(at 3σ) ※2

檢出器

偏光計測模塊

測量光斑直徑

2.2mm×2.2mm

光源

100W 鹵素?zé)艋?LED光源

本體?重量

300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、約20kg

 Option
? Rth測量、全方位角測量※治具本體(旋轉(zhuǎn):180°, 傾斜:±50°)
? 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具


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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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