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總部位于德國柏林科技園區(qū)的SENTECH儀器公司，已成為光伏生產(chǎn)設(shè)備世界市場之 一.我們是一家快速發(fā)展的中型公司，擁有60多名員工，他們是我們有價值的資產(chǎn)我們団 隊的每個成員都為公司的成功做出貢獻(xiàn)，我們總是在尋找與我們志同道合的新工作伙伴，我 們誠摯期待您的加入。

薄膜測量儀器

反射膜厚儀RM 1000和RM 2000

擴(kuò)展折射率指數(shù)測量極限我們的反射儀的特點是通過樣品的高度和傾斜調(diào)整進(jìn)行精確的單光束反射率測量，光學(xué)布局的高光導(dǎo)允許對n和kffl 行重復(fù)測量，對粗糙表面進(jìn)行測量以及對非常薄的薄膜進(jìn)行厚度測量.

紫外-近紅外光譜葩圍

RM 1000 430 nm-930 nm

RM 2000 200 nm - 930 nm

高分辨率自動掃描

反射儀RM 1000和RM 2000可以選配x-y自動掃描臺和自動掃描軟件、用于小光斑尺寸的物鏡和攝像機(jī)。

綜合薄膜測量軟件FTPadv Expert

寬光譜范圍和高光譜精度

SENresearch4.0光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。 傅立葉紅外光譜儀FTIR提供了高光譜分辨率用以分析厚度高達(dá)200|jm的厚膜。

沒有光學(xué)器件運動（步進(jìn)掃描分析器原理）

為了獲得測量結(jié)果，在數(shù)據(jù)采集過程中沒有光學(xué)器件運動。步進(jìn)掃描分析器（SSA）原理是SENrsearch4.0光譜橢偏儀的一個獨特特性。

雙補償器2C全穆勒矩陣測量

通過創(chuàng)新的雙補償器2C設(shè)計擴(kuò)展了步進(jìn)掃描分析器SSAJ京理，允許測量全穆勒矩陣。該設(shè)計是可現(xiàn)場升 級和實

現(xiàn)成本效益的附件。

SpectraRay/4綜合橢偏儀軟件

SpectraRay/4是用于先進(jìn)材料分析的全功能軟件包，SpectraRay/4包括用于與引導(dǎo)圖形用戶界面進(jìn) 行研究的交互

模式和用于常規(guī)應(yīng)用的配方模式.

激光橢偏儀SE400adv

亞埃精度穩(wěn)定的氣氤激光器保證了 0.1埃精度的超薄單層薄膜厚度測量。

擴(kuò)展激光欄偏儀的極限

性能優(yōu)異的多角度手動角度計和角度精度優(yōu)越的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折 射率、消光系數(shù)和膜厚.

高速測量

我們的激光橢偏儀SE 400adv的高速測量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長和終點檢 測，或者做樣品均勻性的自動掃描。

綜合薄膜測量軟件FTPadvExp

測量n， k，和膜厚

該軟件包是為R（入）和T（入）測

量的高級分析而設(shè)計的。

查層膜分析

可以測量單個薄膜和層畳膜的每一層的薄膜厚度和折射率.

大量色散模型

集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學(xué)特性。利用快速擬合算法，通過改變模型參數(shù)

將計算得到的光譜調(diào)整到實測光譜。