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三級拉曼顯微光譜系統 （Model: Trivista CRS+）

德國S&I GmbH TriVista CRS+ 產品定位：多功能開放式自動化“光譜成像綜合分析系統”。

TriVista CRS+ 三級顯微拉曼光譜儀，高性能模塊化設計，具有以下優勢：

1. 集成多功能：如拉曼，熒光，暗場光譜，TCSPC熒光壽命，變溫紅外光譜，時間分辨光譜等；

2. 適用性寬：結合多種測試環境要求，如大樣品光路系統，低溫，強磁，高溫，AFM。

3. 開放性強：可集成多路激光器，四個探測器，四個狹縫入口；

4. 超高光譜分辨率：0.14cm-1(加模式); 超低波數拉曼性能：>=5cm-1(減模式)

5. 系統自動控制與高可靠性，系統設計合理，結構穩定，光路不受溫度影響，不需專業人員維護

6. 與OPO連續可調波長激光器搭配做共振吸收拉曼，軟件控制波長掃描，適于如碳管拉曼測試研究。

TriVista CRS+ 性能：

·激光器深紫外到近紅外波長范圍

·多達內置4個波長激光器，

·外置外接大型激光器

·紫外和可見光/近紅外雙光束路徑

·自動控制激光選擇

·自動對準，聚焦和校準功能

·超高拉曼光譜分辨率 ＜0.14cm-1 @ 633 nm

·低波數拉曼，可測試到 +/- 5 cm-1

·高波數范圍: 9000cm-1（@ 532nm）

·熱電制冷和液氮制冷探測器

·正置/倒置/雙顯微鏡

·空間分辨率：XY 1um; Z 2um

·步進電機和壓電驅動XYZ位移臺

·快速3D拉曼Mapping

·熒光壽命成像Mapping功能

·集成控制液氮溫度冷熱臺

·集成液氦溫度低溫恒溫器

·可結合拉曼成像和原子力顯微鏡成像

·自動控制的偏振光譜功能

·大樣品箱，可放置固體樣品，粉末樣品，薄膜樣品，比色皿池，任意解度激發

TriVista CRS+ 系統結構原理

三級聯光譜儀的參數性能

加模式（1+2+3） 減模式（1-2+3）減模式1級光柵與2級光柵反向旋轉，重新合光，利用狹縫的精密控制以消除激光瑞利線。

加模式/減模式同一光路，軟件切換無需校正光路

VISTACONTROL跨平臺控制系統

激光器自動選擇，

光路的自動對準波長和強度自動校準功能

VistaControl硬件控制界面

加熱、冷卻階段和低溫狀態的溫度控制

自動Z軸聚焦拉曼成像

快速拉曼/熒光/壽命 Mapping

熒光和背景抑制

光譜庫匹配數據（物質成份分析）

與原子力顯微鏡（AFM）連用并控制

各種數據格式導出，各種后處理程序

拓展延伸光路，與外置低溫臺，SEM，連用

大樣品箱，可放置固體樣品，粉末樣品，薄膜樣品，比色皿池，測吸收，透射，正反射，任意角度激發