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安徽澤攸科技有限公司
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場發(fā)射掃描電鏡
產品介紹：
ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源，三級獨立真空設計，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結構表征需求。
標配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。
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