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四探針測試系統(for 300/450mm wafer)
四探針測試系統(for 300/450mm wafer)

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產品簡介:

該款設備是一種用于測量硅片和太陽能電池片電阻和電阻率的系統。該系統是為便于個人計算機操作而設計的,具有多種數據分析、繪圖等功能.

產品特點:

- X,Y,Z軸全自動系統

- 自動范圍選擇

- 300/450 mm晶片和太陽能電池系統

-通過操作軟件完善遠程控制

- 數據分析(2D、3D地圖/數據地圖/趨勢圖等)

- ASTM, SEMI 測量模式

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