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用于晶體取向測量的 SDCOM 小型衍射儀
用于單晶(晶錠和晶圓)的材料研究、生產和質量控制的臺式XRD設備。
Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。
SDCOM的特點
超快速測量:樣品旋轉一次(即10秒內)即可捕獲所有所需的晶體取向參數
多種樣品尺寸:可測量直徑從1mm到200mm的樣品
可對任何單晶材料進行全自動分析和取向測定
典型標準偏差 (Si 100):傾角幅度<0.01° ,傾角方向<0.03°
正常運行時間:>99%
Theta 掃描功能:用于復雜的研究和材料表征
轉移技術:實現一束切割光束中*多可處理6個定向好的晶體
可與SECS/GEM等MES集成
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隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發,鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學分析過程相對復雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
在科研與產業創新的過程中,作為核心生產研發設備的精密儀器,其先進性及性能穩定性
時間:2025年4月18日-20日 展館:大連國際會議中心 &n
展期:2025年3月10日-12日展館:上海世博展覽館 H1 號館地址:上海市?浦東博成路850號展位號:H1-A4262025年3月10日至12日,馬爾文帕納科(Malvern Panalytica
本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進行預制備樣品電位測量時,樣品中產生的氣泡會顯著影響測量結果。本文將通過實際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科專利的擴散屏障法[2]結合使用,來保障預制
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