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DDCOM 用于超快速晶體取向測量
用于晶體取向測量的臺式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動測定各種晶體取向的工具。
超快速掃描方法
速度是Theta掃描方法的 200 倍
以3D形式自動評估完整晶格取向
在10秒內測定整個晶體取向
高效的質量控制工作流程
用于標準研究和工業工作流程
晶體取向的方位設置和標記
預編程的立方晶體參數
先進便捷的軟件
精度高，可達（1/100）°
結構緊湊、用戶友好、性價比高
樣品處理方便，操作簡單
采用風冷 X射線光管（無需水冷），能耗和運行成本低
控制切割、研磨和拋光
單晶的完整晶格取向
適用于不同尺寸和重量的各種獨特材料，例如：2-12“的晶圓和重達20kg的鑄錠
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隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發，鋰電正極材料也正在快速迭代，其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學分析過程相對復雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
在科研與產業創新的過程中，作為核心生產研發設備的精密儀器，其先進性及性能穩定性
時間：2025年4月18日-20日 展館：大連國際會議中心 &n
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號館地址：上海市?浦東博成路850號展位號：H1-A4262025年3月10日至12日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進行預制備樣品電位測量時，樣品中產生的氣泡會顯著影響測量結果。本文將通過實際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科專利的擴散屏障法[2]結合使用，來保障預制
本文摘要納米氣泡的粒度表征，受限于其顆粒濃度低、粒徑分布寬等特點，若使用動態光散射（DLS）技術進行測試，信號弱，數據質量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術實現實時、可視化的納米氣泡顆粒表
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