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德國(guó)KSI超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)i-Wafer圖片
本圖片來(lái)自深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司提供的德國(guó)KSI超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)i-Wafer，型號(hào)為的半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器，產(chǎn)地為德國(guó)，屬于品牌，參考價(jià)格為面議，公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的KSI全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)i-Ingot、KSI-Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)等產(chǎn)品。深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司是中國(guó)粉體網(wǎng)的會(huì)員，合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)2年，工商信息已通過(guò)人工核驗(yàn)，獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證，請(qǐng)放心選擇！
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
會(huì)員2年
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品牌性質(zhì)：生產(chǎn)商
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